MikroMasch探針

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濾光片
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石墨烯納米材料
 石墨烯納米材料
 

 

MikroMasch
原子力顯微鏡(AFM)探針
掃描探針顯微鏡(SPM)探針
Porous Aluminium 多孔鋁
HOPG 高定向熱解石墨
Test Structure

 

(Valid from 18 April 2011. Subject to change without notice)

 
Description
Part Number
Shipping unit
Price, EUR
High Resolution
1 Hi'RES-C Probes,
1 lever
HI'RES-C/14/AlBS
HI'RES-C/15/AlBS
HI'RES-C/16/AlBS
HI'RES-C/17/AlBS
HI'RES-C/18/AlBS
HI'RES-C/19/AlBS
5 chips 400
15 chips 900
1' Hi'RES-W Probes,
1 lever
HI'RES-W/14/AlBS
HI'RES-W/15/AlBS
HI'RES-W/16/AlBS
HI'RES-W/18/AlBS
5 chips 400
15 chips 900
Conductive Probes
2 DPER Probes
High Resolution
in Electrical
Measurements
DPER14
DPER15
DPER16
DPER17
DPER18
15 chips 450
50 chips 1150
3 DPE Probes
Low Noise
in Electrical
Measurements
DPE14
DPE15
DPE16
DPE17
DPE18
15 chips 450
50 chips 1150
4 NSC/CSC Probes
Silicon Tip,
1 lever
NSC14/Pt/no Al
NSC15/Pt/no Al
NSC16/Pt/no Al
CSC17/Pt/no Al
NSC18/Pt/no Al
NSC19/Pt/no Al
15 chips 360
50 chips 900
5 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 2 levers
Triangular
NSC11/Pt/AlBS
NSC21/Pt/AlBS
CSC11/Pt/AlBS
CSC21/Pt/AlBS
15 chips 390
50 chips 1000
6 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 2 levers
Triangular
NSC11/Pt/no Al
NSC21/Pt/no Al
CSC11/Pt/no Al
CSC21/Pt/no Al
15 chips 390
50 chips 1000
7 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 2 levers
Triangular
NSC35/Pt/AlBS
NSC36/Pt/AlBS
CSC37/Pt/AlBS
CSC38/Pt/AlBS
15 chips 360
50 chips 900
8 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 2 levers
Triangular
NSC35/Pt/no Al
NSC36/Pt/no Al
CSC37/Pt/no Al
CSC381/Pt/no Al
15 chips 360
50 chips 900
9 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 1 lever
NSC14/Cr-Au
NSC15/Cr-Au
NSC16/Cr-Au
CSC17/Cr-Au
NSC18/Cr-Au
NSC19/Cr-Au
15 chips 360
50 chips 900
10 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 2 levers
Triangular
NSC11/Cr-Au
NSC21/Cr-Au
CSC11/Cr-Au
CSC21/Cr-Au
15 chips 390
50 chips 1000
11 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 3 levers
NSC35/Cr-Au
NSC36/Cr-Au
CSC37/Cr-Au
CSC38/Cr-Au
15 chips 360
50 chips 900
Magnetic Probes
12 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 1 lever
NSC14/Co-Cr
NSC18/Co-Cr
NSC19/Co-Cr
15 chips 390
50 chips 1000
13 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 3 levers
NSC35/Co-Cr
NSC36/Co-Cr
15 chips 390
50 chips 1000
Standard silicon Probes
14 NSC/CSC Probes
Silicon Tip,
1 lever
NSC14/AlBS
NSC15/AlBS
NSC16/AlBS
CSC17/AlBS
NSC18/AlBS
NSC19/AlBS
15 chips 300
50 chips 850
15 NSC/CSC Probes
Silicon Tip,
1 lever
NSC14/no Al
NSC15/no Al
NSC16/no Al
CSC17/no Al
NSC18/no Al
NSC19/no Al
15 chips 300
50 chips 850
16 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 2 levers
Triangular
NSC11/AlBS
NSC21/AlBS
CSC11/AlBS
CSC21/AlBS
15 chips 390
50 chips 1000
17 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 2 levers
Triangular
NSC11/no Al
NSC21/no Al
CSC11/no Al
CSC21/no Al
15 chips 390
50 chips 1000
18 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 3 levers
NSC35/AlBS
NSC36/AlBS
CSC37/AlBS
CSC38/AlBS
15 chips 300
50 chips 850
19 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 3 levers
NSC35/no Al
NSC36/no Al
CSC37/no Al
CSC38/no Al
15 chips 300
50 chips 850
Silicon probes, Force Constant calibrated Cantilevers
20 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 1 lever
NSC14/F/AlBS
NSC15/F/AlBS
NSC16/F/AlBS
CSC17/F/AlBS
NSC18/F/AlBS
NSC19/F/AlBS
5 chips 200
Long Scanning
21 LS Probes,
1 lever
DP14/LS/AlBS
DP15/LS/AlBS
DP16/LS/AlBS
DP17/LS/AlBS
DP18/LS/AlBS
DP19/LS/AlBS
15 chips 300
50 chips 900
Standard silicon Probes with Si3N4 coating
22 NSC/CSC Probes
Silicon Tip,
1 lever
NSC14/Si3N4/AlBS
NSC15/Si3N4/AlBS
NSC16/Si3N4/AlBS
CSC17/Si3N4/AlBS
NSC18/Si3N4/AlBS
NSC19/Si3N4/AlBS
15 chips 390
50 chips 1000
23 NSC/CSC Probes
Silicon Tip,
1 lever
NSC14/Si3N4/no Al
NSC15/Si3N4/no Al
NSC16/Si3N4/no Al
CSC17/Si3N4/no Al
NSC18/Si3N4/no Al
NSC19/Si3N4/no Al
15 chips 390
50 chips 1000
24 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 2 levers
Triangular
NSC11/Si3N4/AlBS
NSC21/Si3N4/AlBS
CSC11/Si3N4/AlBS
CSC21/Si3N4/AlBS
15 chips 390
50 chips 1000
25 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 2 levers
Triangular
NSC11/Si3N4/no Al
NSC21/Si3N4/no Al
CSC11/Si3N4/no Al
CSC21/Si3N4/no Al
15 chips 390
50 chips 1000
26 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 3 levers
NSC35/Si3N4/AlBS
NSC36/Si3N4/AlBS
CSC37/si3N4/AlBS
CSC38/Si3N4/AlBS
15 chips 390
50 chips 1000
27 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 3 levers
NSC35/si3N4/no Al
NSC36/Si3N4/no Al
CSC37/Si3N4/no Al
CSC38/Si3N4/no Al
15 chips 390
50 chips 1000
Torsional cantilever
28 TL Probes,
1 lever
TL01/AlBS
TL02/AlBS
5 chips
15 chips
50 chips
225
600
1700
TL01/no Al
TL02/no Al
5 chips
15 chips
50 chips
225
600
1700
Tipless cantilever
29 NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 1 lever
NSC12/tipless/AlBS
CSC12/tipless/AlBS
15 chips
50 chips
300
850
NSC12/tipless/no Al
CSC12/tipless/no Al
15 chips
50 chips
300
850
NSC12/tipless/Cr-Au
CSC12/tipless/Cr-Au
15 chips
50 chips
360
900


 

Porous Aluminium
30 Porous Aluminium PA01 1 200

HOPG
31 HOPG
mosaic spread
3.5 +/- 0,5
ZYH + DS/1 mm
ZYH + DS/1,75 mm
ZYH + DS/2 mm
5 240
330
360
32 HOPG
mosaic spread
1.5 +/- 0,3
ZYD + SS/1 mm
ZYD + SS/1,5 mm
ZYD + SS/2 mm
ZYD + DS/1 mm
ZYD + DS/2 mm
3 144
180
216
276
420
33 HOPG
mosaic spread
0.8 +/- 0,2
ZYB + SS/1,5 mm
ZYB + DS/1 mm
ZYB + DS/2 mm
1 100
120
240
34 HOPG
mosaic spread
0.4 +/- 0,1
ZYA + DS/1 mm
ZYA + DS/2 mm
1 468
700
Test Structure
35 TGZ
Vertical Calibration
TGZ01
TGZ02
TGZ03
TGZ04
TGZ11
1 100
36 TGZ
NIST traceable
TGZ01C
TGZ02C
TGZ03C
1 250
37  TGX
Lateral Calibration
TGX01
TGX11
1 200
38  TGG
Grating with
Triangular Steps
TGG01 1 200
39  TGF
Grating with
Trapezoidal Steps
TGF11 1 200
Test Structure Sets
40 TGS01
Set of 3 gratings
TGZ01
TGZ02
TGZ03
1 200
41 TGS01C
Set of 3 gratings
NIST traceable
TGZ01C
TGZ02C
TGZ03C
1 650
42 TGS02
Set of 6 gratings
TGZ01
TGZ02
TGZ03
TGG01
TGX01
PA01
1 500
43 TS02C
Set of 6 gratings,
3 gratings
NIST traceable
TGZ01
TGZ02
TGZ03
TGG01
TGX01
PA01
1 950
44 TGS03
Set of 3 gratings
TGG01
TGX01
PA01
1 400

您可以訪問MikroMasch公司網站了解更多: www.spmtips.com

 

 

高定向熱解石墨(HOPG)

介紹
HOPG是一種新型高純度碳,為顯微分析人員提供了一種可重復使用的平滑表面。與云母不同的是,HOPG完全無極性適用于元素分析,并且分析信號中僅有碳原子背景信號。HOPG優(yōu)良的表面光滑性使其可以作為空白背景,除非分辨率達到原子級水平。在HOPG發(fā)現之初,其被稱為“初生石墨”。請不要將SPI Supplies的HOPG和玻璃態(tài)碳相混淆。

特性:

薄層狀結構
Gr普通石墨和特殊HOPG均系薄層狀結構,就像云母、二硫化鉬及其他分層物質一樣,由平的堆積層組成。所有這些薄層狀的物質,其平面比層與層之間承受更大的力量,這也說明了這樣的物質容易劈開的特征。

開裂特性- HOPG具有層狀結構,會像云母一樣開裂。通常的方法是先用一條膠帶(如3M “Scotch Brand”雙面膠)粘在HOPG的表面上,然后將其撕下,膠帶上就會粘有一層薄薄的HOPG。新裂表層可以用作樣本基底材料。那么每個樣本上會有多少裂片呢?這很難講清楚。對于好的HOPG(如SPI-1或ZYA),每2mm厚的區(qū)域中大概含有20到40個裂片。我們無法保證裂片的確切數量,但如果您愿意與我們分享您寶貴的工作經驗,我們會席耳恭聽的。HOPG的等級越低,每2mm厚的區(qū)域中裂片數量就越少,但具體有多少我們也無法準確預測出。

基面圖像-用原子級分辨率的掃描隧道顯微鏡拍攝HOPG的結構圖像,會得到兩種圖像。通常觀測到的是一個緊密排列矩陣的圖像;在此矩陣中,每個原子被六個相鄰原子包圍,任意兩個原子間距為0.246nm。在理想條件下,特別是探針頭真正為單原子時,您將看到石墨的六邊形“鐵絲網”結構;其中,原子的中心間距為0.1415nm。這個距離是碳原子的基本屬性,與石墨等級無關。多數情況下對HOPG的基面進行觀察時,圖像就是此種緊密排列的矩陣。

用作石墨單色器:據報告,SPI Supplies提供的HOPG(尤其是SPI-1和ZYA級的)比任何其它物質都能更有效地進行X射線和中子的衍射。例如對X射線來說,使用HOPG其強度是使用氟化鋰晶體的5倍。使用好的HOPG的單偏轉聚焦單色器,產生的馬賽克擴散小,其亮度是同分辨率氟化鋰單色器的3倍。

平整度/粗糙度- HOPG具有多晶結構,其尺寸大小不一。好的HOPG,其晶體可達10mm。新裂表層由多大幾個至十幾個的0.2-0.3nm的原子梯級組成。HOPG質量越好,表面粗糙度越小,新裂表層原子梯級數越少。

馬賽克擴散- 此項指標用于衡量HOPG的定向度。馬賽克擴散越小,HOPG定向度越高,從而裂片表面呈現的梯級越少。馬賽克擴散越低,HOPG價格越高,但其可分裂性越好,產生的裂片相應越多,這在某種程度上提高了材料的性價比。

柱狀結構:
柱狀結構在材料平板內部呈垂直分布,在側表面可以看到顆粒邊界。換言之,馬賽克擴散沿顆粒邊界偏離柱狀結構正交軸的角度進行。

高溫中使用
越來越多的科研領域需要使用HOPG,越來越多的場合需要良好的耐高溫特性。以下信息可能會對您有所幫助:

  • 空氣中: > 500°C/932°F (開始燃燒)
  • 0.1托真空中: > 2500°C/4532°F
  • 惰性環(huán)境中(N, Ar, He) > 3500°C/6332°F

z軸校準:
對HOPG裂片表面凹凸部分的高度沒有進行過校準。然而,晶體表面具有固定的結構,單階高度為0.34nm。由于進行了分裂處理,您會很容易地發(fā)現梯級結構。另一種方法是置于烘箱中,通過氧化作用在表面產生蝕刻坑。

高純度- 兩種品牌所有等級的HOPG都具有較高的純度,雜質含量在10ppm級或更低。

化學穩(wěn)定性:
HOPG對包括四氧化鋨在內的所有化學物質都具有較高的化學穩(wěn)定性。然而,當其置于SPI Supplies Plasma Prep II等離子蝕刻機產生的氧等離子體中時,HOPG會迅速消失。

導熱性:
由于HOPG各向異性的特點,不同方向上其導熱性也不同。熱導率沿基面方向為1800Wt/C,沿垂直基面方向為8-10Wt/C。任何類型的HOPG,其熱導率都比較高。導熱鱗片與其它HOPG有相同

 


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